4257402150, Leptoskop 2042 mit Fe-Standardsonde DEUTSCH

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4257402150, Schichtdickenmessgerät LEPTOSKOP , Mit farbigem, rutschfestem Gummirahmen , Beleuchtetes Display mit großen Ziffern , Ermittelt die Dicke nichtmagnetischer Schichten auf magnetisierbarem Substrat (nach DIN EN ISO 2178) und die Dicke nichtleitender Schichten auf nichtmagnetischem, leitfähigem Grundmaterial nach dem Wirbelstromprinzip (nach DIN EN ISO 2360) mit externen Sonden für unterschiedlichste Geometrie , Messbereich sondenabhängig , Einheiten µm, mm, mils, inch , Stromversorgung erfolgt wahlweise über Batterie, Akkus, USB oder Netzteil Lieferung: Im Kunststoffkoffer. Geräte mit Fe-Standardsonde, Batterien, Kalibrierfolien, Kontrollkörper, Betriebsanleitung, Qualitätsprüfzertifikat. Hinweis: Gerät mit Datenspeicher und andere Sonden auf Anfrage. Messunsicherheit: Schichtdicke < 100 µm: 1 % des Messwerts ±1µm (nach Kalibrierung) Schichtdicke > 100 µm: 1–3 % des Messwerts ±1µm Schichtdicke > 1000 µm: 3–5 % des Messwerts ±10 µm Schichtdicke > 10000 µm: 5 % des Messwerts ±100 µm, Fabrikat: Deutsch