Kelvin Probe Force Microscopy bei Mercateo günstig kaufen

Produktinformationen

Artikel-Nr.:
858A-9783030092986

Hersteller:
Springer Verlag

Herst.-Nr.:
9783030092986

EAN/GTIN:
9783030092986

Suchbegriffe:

Chemie-Bücher
Chemiebücher
Chemiebücher - englischsprachig
chemie bücher

From Single Charge Detection to Device Characterization

Weitere Informationen:


Author:	Sascha Sadewasser; Thilo Glatzel
Verlag:	Springer International Publishing
Sprache:	eng

... > Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik > Chemie > Physikalische Chemie

Weitere Suchbegriffe: Scanning Kelvin Probe microscopy; Electrostatic Force Microscopy; KPFM techniques for liquid environment; KPFM with atomic resolution, Scanning Kelvin Probe Microscopy, Electrostatic Force Microscopy, KPFM techniques for liquid environment, KPFM with atomic resolution, electrostatic field of a cantilever, Kelvin spectroscopy of single molecules