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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip


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Produktinformationen
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Artikel-Nr.:
     858A-9783031196416
Hersteller:
     Springer Verlag
Herst.-Nr.:
     9783031196416
EAN/GTIN:
     9783031196416
Suchbegriffe:
Elektronik, Elektro- und Nachrichte...
Elektronik, Elektro- und Nachrichte...
allgemeine Technikbücher
allgemeine Technikbücher - englisch...
Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Weitere Informationen:
Author:
Patrick Girard; Shawn Blanton; Li-C. Wang
Verlag:
Springer International Publishing
Sprache:
eng
Weitere Suchbegriffe: allgemeine technikbücher - englischsprachig, Machine Learning in Design and Test, VLSI Design for Machine Learning, Smart Analytics for semiconductor design and test, Intelligent VLSI Test Engineering, Intelligent Yield Optimization
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