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Ageing of Integrated Circuits


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Produktinformationen
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Artikel-Nr.:
     858A-9783030237837
Hersteller:
     Springer Verlag
Herst.-Nr.:
     9783030237837
EAN/GTIN:
     9783030237837
Suchbegriffe:
Elektronik, Elektro- und Nachrichte...
Elektronik, Elektro- und Nachrichte...
allgemeine Technikbücher
allgemeine Technikbücher - englisch...
Causes, Effects and Mitigation Techniques
Weitere Informationen:
Author:
Basel Halak
Verlag:
Springer International Publishing
Sprache:
eng
Weitere Suchbegriffe: AnalogICReliability; AgingEffectsonIntegratedCircuits; Aging-effectsMitigationinprocessorarchitectures; ReliabilityWearoutMechanisms; BiasTemperatureInstability, Analog IC Reliability, Aging Effects on Integrated Circuits, Aging-effects Mitigation in processor architectures, Reliability Wearout Mechanisms, Bias Temperature Instability
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